不同物体的反射率不同，这主要取决于样品物质本身的特性(如材质成分、表面粗糙度等）、入射光的波长和入射角度等，所以我们能通过反射光谱信息获取样品的成分组成等信息。反射包括镜面反射和漫反射两种类型。反射率是光到达样品表面后反射部分的能量相对于原始参考光谱的百分比，反射测量与透射测量方法基本是一致，可以用如下公式表达：

1. 反射测量仪器搭建方案

整套仪器由微型光纤光谱仪（含软件）、光源、透反射样品支架、反射探头和标准反射白板组成，如下图示意：

具体配置清单：

2. 仪器介绍

2.1 微型光纤光谱仪

a) RGB-ER-CL微型光谱仪采用交叉非对称C-T光路结构，配置先进的CMOS探测器，是一款结构紧凑、携带方便的通用型微型光纤光谱仪，适用于科研及工业生产的光谱测量应用，具有高灵敏度、高分辨率、高量子效率和高动态范围的特点。

b) RGB-ER-CL微型光谱仪响应范围为200～1000nm，狭缝为25μm，分辨率为1.5nm。RGB-VIS-NIR-CL的波长范围为400～1100nm，狭缝为25μm，分辨率为1.0nm。用户也可以选择不同的光栅配置，得到不同的光学分辨率和光谱响应范围，以满足不同的应用需求。另外针对其它波段如200～900nm/200～1000nm/300～1100nm/700～1100nm等可以提供定制。

c) RGB-NIR-CL近红外光谱仪是一款高性能近红外光谱仪，可测量波长范围950 nm～1700 nm，分辨率~10 nm (@ 25 µm狭缝)。

d) 以上所有微型光谱仪均免费提供配套光谱测量软件KewSpec。该软件包含查看、保存、读取光谱图和数据，以及积分时间、Boxcar平滑和信号平均等信号处理等基本功能，还包含光谱测量、吸光度、透过率、反射率等应用测量模式。操作界面简洁明了，易于上手。

2.2 光源

根据待测样品的特征波长范围选择合适的光源，如HLS-1卤钨灯光源、FCLS-LED光纤耦合LED光源等。

HLS-1卤钨灯光源波长范围360~2500nm，可直接出光或也可由SMA905端口连接光纤耦合输出。输出光强度可调，光源前端设有支架，可根据需要安装滤光片或衰减片。

FCLS-LED系列光纤耦合LED光源提供多种单色光和白光（400-700nm）可选，其他波长也可支持定制。该光源可连续输出或脉冲输出，强度与频率可调。结构紧凑，性能可靠，输出光功率非常稳定。

2.3 透反射样品支架

透反射样品支架是常用的光谱测量附件，与反射探头联用可实现反射光谱测量，与两根光纤跳线联用可实现透射光谱测量。ST-RT透反射样品支架包括可调滑轨、底座、样品调整座以及两个CL-UV准直透镜。底座设有积分球的定位孔，可以快速准确的放置积分球。该产品广泛应用于硅、金属、玻璃、塑料、珠宝等样品的透射和反射光谱测量。

2.4 反射探头

KEWLAB提供的ZR系列反射探头具有坚实耐用、稳定性高、插入损耗和反射损耗低等特点。ZR系列反射探头是理想的选择，采用6包1光纤排布，既可测量镜面反射，也可测量漫反射。光源的信号光由光纤一端传导至待测样品，然后作用光由反射探头进行探测并将其传输至光谱仪。根据待测样品的实际特性和检测应用需求，可以选择不同类型的反射探头。   

反射探头覆盖光谱范围：190-2200nm；

光纤芯径可选范围：200、400、600μm等；

标准长度：0.5m、1m、2m，其它长度支持定制；

外壳包层材料：金属或塑料。

2.5 反射白板

标准反射白板是用于反射率测量的标准漫反射参考物，适合于测量各种的粗糙样品的表面反射率。该白板采用高品质PTFE材质，在200-2500nm宽光谱波段提供90%以上反射率，其中350-1500nm波段反射率≥98%和250-2200nm波段反射率≥95%。